Короленко П. В. / Korolenko, P.V.
МГУ имени М.В. Ломоносова / RUS МГУ имени М.В. Ломоносова
Логачев П. А. / Logachev, P.A.
МГУ имени М.В. Ломоносова / RUS МГУ имени М.В. Ломоносова
Рыжиков С. Б. / Ryzhikov, S.B.
МГУ имени М.В. Ломоносова / RUS МГУ имени М.В. Ломоносова
Рыжикова Ю. В. / Ryzhikova, Yu.V.
МГУ имени М.В. Ломоносова / RUS МГУ имени М.В. Ломоносова
Выпуск в базе РИНЦ
Короленко П. В., Логачев П. А., Рыжиков С. Б., Рыжикова Ю. В. Оптическая диагностика аппроксимантов 1D и 2D апериодических структур // Физические основы приборостроения. 2014. Т. 3. № 3(12). С. 66–71. DOI: 10.25210/jfop-1403-066071
Korolenko, P.V., Logachev, P.A., Ryzhikov, S.B., Ryzhikova, Yu.V. Optical Approximant Diagnostics of 1D and 2D Aperiodic Structures // Physical Bases of Instrumentation. 2014. Vol. 3. No. 3(12). P. 66–71. DOI: 10.25210/jfop-1403-066071
Аннотация: Дано обоснование скейлинговым методам оптической диагностики аппроксимантов одномерных и двумерных структур квазикристаллического типа, представляющих собой апериодические многослойные системы и дифракционные решетки. Оно опирается на наличие количественной связи между морфологическими особенностями структур аппроксимантов и скейлингом их оптических характеристик. Обнаруженная устойчивость скейлинговых параметров зондирующего излучения к изменению уровня генерации элементарных ячеек аппроксимантов и размеров исследуемых структур указывает на перспективность скейлинговых подходов к совершенствованию диагностики.
Abstract: Scaling methods for optical diagnostics of 1D and 2D approximants of quasicrystal type structures that represent aperiodic multilayer systems and gratings are explained. It is based on the presence of the quantitative relationship between the morphological features of the approximant structures and scaling optical characteristics. The detected scaling parameter stability of the probing radiation to changes in the level generation of approximant elementary cells and the total size of investigated structures indicates the prospect scaling approaches to improve diagnostics.
Ключевые слова: оптическая диагностика, апериодические структуры, многослойные системы, квазикристаллические структуры, скейлинг, паттерный анализ, approximants, optical diagnostics, quasicrystalline structure, multilayer systems, aperiodic gratings, pattern analysis, оптическая диагностика