Рентгеновский флуоресцентный спектрометр с геометрией скользящих углов падения рентгеновского излучения на исследуемый образец / X-Ray Fluorescence Spectrometer with Geometry of Grazing Incidence X-ray Radiation

Новиковский Н.М. / Novikovskii, N.M.
Южный федеральный университет / RUS Южный федеральный университет
Разномазов В.М. / Raznomazov, V.M.
НИИ физики Южного федерального университета / RUS НИИ физики Южного федерального университета
Пономаренко В.О. / Ponomarenko, V.O.
Южный научный центр Российской Академии наук (ЮНЦ РАН), Ростов-на-Дону / RUS Южный научный центр Российской Академии наук (ЮНЦ РАН), Ростов-на-Дону
Сарычев Д.А. / Sarychev, D.A.
НИИ физики Южного федерального университета / RUS НИИ физики Южного федерального университета
Выпуск в базе РИНЦ
Новиковский Н.М., Разномазов В.М., Пономаренко В.О., Сарычев Д.А. Рентгеновский флуоресцентный спектрометр с геометрией скользящих углов падения рентгеновского излучения на исследуемый образец // Физические основы приборостроения. 2012. Т. 1. № 2(3). С. 78–82. DOI: 10.25210/jfop-1202-078082
Novikovskii, N.M., Raznomazov, V.M., Ponomarenko, V.O., Sarychev, D.A. X-Ray Fluorescence Spectrometer with Geometry of Grazing Incidence X-ray Radiation // Physical Bases of Instrumentation. 2012. Vol. 1. No. 2(3). P. 78–82. DOI: 10.25210/jfop-1202-078082

Аннотация: Представлен разработанный в НИИ физики ЮФУ портативный рентгеновский флуоресцентный спектрометр для элементного анализа сухих остатков водных растворов, растворов биологических и медицинских образцов. Результаты количественного элементного анализа ГСО ионов металлов показывают низкие пределы обнаружения (~ ppb) химических элементов в диапазоне от А1 до U. Это позволяет конкурировать с высокочувствительными спектрометрами полного внешнего отражения.
Abstract: The portable X-ray fluorescent spectrometer for the element analysis of the dry residues of water solutions, solutions of biological and medical samples, is developed in Research Institute of Physics of Southern Federal University. Results of the quantitative element analysis of standard solutions of metal ions show low detection limits (~ ppb) of chemical elements in the range from Al to U. This allows it to compete with the highly sensitive Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) spectrometers.
Ключевые слова: полное внешнее отражение, рентгеновский флуоресцентный анализ, пределы обнаружения, среднеквадратичное отклонение, X-ray spectrometer, Total Reflection X-ray Fluorescence, X-ray fluorescence analysis, detection limits, полное внешнее отражение

Литература / References
  1. Пономаренко В.О., Сарычев Д.А., Водолажская Л.Н. Применение рентгено-флуоресцентного анализа для исследования химического состава амфорной керамики // Вестник южного научного центра РАН. 2012. Т. 8. № 1. С. 9-17.
  2. Разномазов В.М., Новиковский Н.М., Громов В.В. и др. Рентгено-флуоресцентный спектрометр с полным внешним отражением для элементного анализа водорослей-макрофитов // Экология промышленного производства. 2011. № 1. С. 80-84.
  3. Лосев Н.Ф., Краснолуцкий В.П., Лосев В.Н. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ с использованием полного внешнего отражения первичного излучения // Заводская лаборатория. 1993. Т. 59. № 6. С. 20-29.
  4. Novikovskii N.M., Vedrinskii R.V., Sarychev D.A. et al. Total reflection X-ray fluorescence spectrometer employing secondary fluorescence radiation // Proceeding of the 2nd International Conference on X-ray analysis. Ulaanbaatar, Mongolia. Sept. 23-26, 2009. P. 73.
  5. Raznomazov V.M., Novikovskii N.M., Kovtun A.P. et al. X-ray fluorescent spectrometer with total X-ray reflection for studies of kinetics of thin film deposition // Inorganic Materials. 2011. Vol. 47. No. 14. P. 1569-1573.
  6. Alov N.V., Oskolok K.V., Wittershagen A. et al. Total-reflection X-ray fluorescence study of electrochemical deposition of metals on a glassceramic carbon electrode surface // Spectrochimica Acta Part B. 56.2001. P. 2117-2126.
  7. Alov N.V., Oskolok K.V. Formation of binary and ternary metal deposits on glass-ceramic carbon electrode surfaces: electron-probe X-ray microanalysis, total-reflection X-ray fluorescence analysis, X-ray photoelectron spectroscopy and scanning electron microscopy study // Spectrochimica Acta Part B. 58, 2003. P. 735-740.
  8. Разномазов B.M., Пономаренко B.O., Новиковский H.M. и др. Рентгеновский спектрометр третичных спектров с полным внешним отражением вторичного излучения // Приборы и техника эксперимента. 2010. № 4. С. 167-168.
  9. Klockenkamper R. Total-reflection X-Ray fluorescence analysis //Wiley Interscience, 1997. P. 245.
  10. TRFA-спектрометр для элементного анализа. Руководство по эксплуатации. // Изд-во: Bruker AXS Microanalysis GmbH. Berlin, 2007. 127 с.
  11. Ковтун А.П., Зинченко С.П., Разномазов В.М. и др. Особенности синтеза тонких плёнок Bi-Fe-Nd-O на подложке (0001) при газоразрядном распылении мишени Bi0 95Nd0.05FeO3 // Конструкции из композиционных материалов. 2009. № 4. C. 44-55.
  12. Смагунова А.Н., Болормаа О., Карпукова О.М., Гэрбиш Ш., Дорж Ж. Разработка методики рентгенофлуоресцентного анализа волос с помощью спектрометра с полным внешним отражением первичного излучения // Аналитика и контроль. 1999. Т. 3. № 3. С. 27-31.
  13. Zheludeva S., Kovalchuk M., Novikova N. Total reflection X-ray fluorescence study of organic nanostructures // Spectrochimica. Acta Part. B 56, 2001. P. 2019-2026.
  14. Кожин А.А., Разномазов В.М., Новиковский Н.М. и др. Концентрации биоэлементов в биосубстратах как индикаторы экологической обстановки и общего функционального состояния организма // Экология промышленного производства. 2011. № 1. С. 45-48.
  15. Кожин А.А., Сарычев Д.А., Разномазов В.М., Новиковский Н.М. Бионеорганическая диагностика микроэлементозов в аспекте патологии репродукции //Монография. Ростов-наДону. изд-во: Эверест, 2011. 180 с.
  16. Ревенко А.Г., Пантеева С.В., Черкашина Т.Ю. и др. Оценка возможности применения рентгеновского спектрометра с полным внешним отражением S2 PICOFOX для анализа горных пород // Аналитика и контроль. 2011. Т. 15. № 3. С. 344-352.
  17. Анурьев В.И. Справочник конструкторамашиностроителя // М.: Машиностроение, 2001. 920 с.
  18. Pavlinskii G.V., Smagunova A.N., Karpukova O.M. et al. Sources of Error in Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Error Correction Using the Internal Standard Method // Journal of Analytical Chemistry, 2002. Vol. 57. № 3. P. 185-193.